Page 88 - Ebook
P. 88
ดัชนีวัดความผิดปกติของชั้นผิวเคลือบฟน (Indices of enamel defect)
มีหลายชนิด ดังนี้ (19)
1.) Specific fluorosis indices
(20)
a.) Dean’s Index
(21)
b.) Thylstrup and Fejerskov Index (TF index)
(22)
c.) The Tooth Surface Index of Fluorosis (TSIF)
2.) Descriptive indices
(23)
a.) The Index of Al-Alousi et al.
(24)
b.) The Developmental Defects of Enamel Index (DDE index) (FDI, 1982)
ในท่นี้จะกลาวถึงเฉพาะดัชนีวัดความผิดปกติของช้นผิวเคลือบฟน (Developmental Defects
ั
ี
ั
of Enamel Index: DDE index) และดัชนีวัดฟนตกกระของ Dean (Dean’s index) และดชนีวด
ั
ฟนตกกระของ Thylstrup and Fejerskov (TF index) ดังน ้ ี
ความผิดปกติของชั้นผิวเคลือบฟนที่นอกเหนือจากฟนตกกระ
(Developmental Defects of Dental Enamel not related to fluorosis)
ดัชนีวัดความผิดปกติของชั้นผิวเคลือบฟน (DDE Index) (24, 25)
ในป ค.ศ. 1977 คณะทำงานของ FDI ตองการจะนำเสนอดัชนีวัดความผิดปกติของชั้นผิวเคลือบฟน
ื
่
ั
(DDE Index) เพ่อแกไขปญหาการจำแนกความผิดปกติของช้นผิวเคลือบฟน (enamel defects) เนองจาก
ื
ั
ี
่
ี
ี
ั
ในขณะนนยงไมมดัชนใดทใชกันเปนสากลในการจำแนกความผิดปกติของช้นผิวเคลือบฟน จึงเปรียบเทียบ
ั
้
ความชุกของการมีความผิดปกติของชั้นผิวเคลือบฟนไดยาก
ในป ค.ศ.1982 เร่มใชดัชนี DDE index เพ่อบันทึกความผิดปกติของผิวเคลือบฟน (enamel)
ิ
ื
ิ
ี
โดยบันทึกความผิดปกติของสีเน้อฟนท่ขาดหายไปและตำแหนงของความผิดปกต ในชั้นตนดัชนีนี้จะม ี
ื
(24)
ี
รายละเอียดดังตารางท่ 18
ี
ี
มีคำเรียก (Terminology) ตางๆ ท่เก่ยวของ ดังน ี ้ (26)
1. Dental fluorosis = Enamel fluorosis
= Mottling
= Fluorosed opacities
2. Enamel opacities = Internal enamel hypoplasia
= Developmental opacities
= Demarcated, diffuse, confluent opacities
= Idiopathic opacities
85